روش های شناسایی و آنالیز مواد مجموعه مواد دکتری

فهرست مطالب:

فصل اول:آشنایی با پرتو ایکس

فصل دوم:پراش پرتو ایکس(XRD)

فصل سوم:شدت باریکه های پراشیده

فصل چهارم:فلورسانس پرتو ایکس(XRF)

فصل پنجم:طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس(XPS)

فصل ششم:طیف سنجی الکترون اوژه(AES)

فصل هفتم:طیف سنجی جرمی یون ثانیه(SIMS)

فصل هشتم:میکروسکوپ نوری(OM)

فصل نهم:میکروسکوپ الکترونی روبشی(SEM)

فصل دهم:میکروسکوپ الکترونی عبوری(TEM)

فصل یازدهم:میکروسکوپ روبشی تونلی(STM)

فصل دوازدهم:میکروسکوپ نیروی اتمی(AFM)

فصل سیزدهم:میکروسکوپ نیروی مغناطیسی(MFM)

فصل چهاردهم:میکروسکوپ میدان یونی(FIM)

فصل پانزدهم:طیف سنجی برگشتی رادرفورد(RBS)

فصل شانزدهم:روش های طیف سنجی نوری

فصل هفدهم:آنالیز حرارتی

فصل هجدهم:سئوالات چهارگزینه ای

فصل نوزدهم:پاسخنامه تشریحی

منابع

انتشارات	ماهان
مولف	مسعود موسی نتایج ملکشاه.

برای سفارش یا اطلاعات بیشتر لینک زیر را درآدرس بار مرور گر خود کپی کنید 

https://rayabook.net/bookid/30375